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问题:

测量介质损耗因数,通常不能发现的设备绝缘缺陷是( )。

选项

  • 整体受潮;(

  • 整体劣化;(

  • 小体积试品的局部缺陷;(

  • 大体积试品的局部缺陷。

  • 答案:

    D.大体积试品的局部缺陷。